机译:外差开尔文探针力显微镜测定的卡西米尔力测量中膜片电位的影响
机译:用扫描探针显微镜表征铜后CMP表面:第二部分:用扫描开尔文探针力显微镜测量表面电势
机译:电介质表面上的开尔文探针力显微镜测量中尖端感应极化的建模和实验验证
机译:用于铁电体表面电势测量的双谐波开尔文探针力显微镜
机译:金属表面之间的卡西米尔力的精确测量以及卡西米尔横向力和温度校正的演示。
机译:用开尔文探针力显微镜和表面光电压测量研究Cu3BiS3的结形成
机译:通过外差Kelvin探针力显微镜测定的Casimir力测量中贴剂电位的影响